雷登云

教授 硕士生导师

机构 微纳电子学系

雷登云 教授 硕士生导师

邮箱leidy@gdut.edu.cn

通讯地址:广东工业大学大学城校区理学馆710室

所属团队:微纳电子器件与集成技术研究团队

简介:

雷登云,教授、硕士生导师。主要从事数字集成电路设计、存算一体芯片设计、软硬件协同设计等研究。

研究方向:

1.数字集成电路设计;

2.存算一体电路设计;

3.软硬件协同加速器设计;

4.电路可靠性与安全性。

教育经历:

2006/09-2010/07,西安电子科技大学,集成电路设计与集成系统,获学士学位

2010/09-2015/07,北京大学,微电子学与固体电子学,获博士学位

工作经历:

2022/07-至今,广东工业大学,集成电路学院,教授

2015/07-2022/06,工业和信息化部电子第五研究所,高级工程师

科研项目:

1.面向科学计算的高精度模拟计算架构研究,国家自然科学基金重大专项重点项目,2025.1-2027.12,校内主持

2.功能融合型三维堆叠RRAM集成技术,国家重点研发计划,2023.12-2027.11,校内主持

3.基于阻变存储器的逻辑锁定关键技术研究,国家自然科学基金,2023.1-2025.12,主持

4.多核异构AI-IoT端侧SoC芯片设计关键技术研发与应用,广东省重点领域研发计划,2025.7-2028.6,校内主持

5.多模态大模型在高密度电子部件领域的缺陷检测应用,广东省重点领域研发计划,2024.7-2027.12,校内主持

6.处理器片上安全防护传感器设计技术研究,中国计算机协会-飞腾基金,2022.11-2023.11,主持

科研成果:

1. Duan, Xiaoxing, Jian Zou, Bin Li*, Zhaohui Wu, and Dengyun Lei*. "An Online Monitoring Scheme of Output Capacitor's Equivalent Series Resistance for Buck Converters Without Current Sensors." IEEE Transactions on Industrial Electronics 68, no. 10 (2021): 10107-10117.

2. Wang, Yiming, Qiang Huo, Xiaoxin Xu, Fei Tan, Rui Gao, Qing Luo, Yiming Yang, Qirui Ren, Xiaojin Zhao, Xinghua Wang*, Dengyun Lei*, Feng Zhang*. "A Homogeneous, Reconfigurable, and Efficient Implementation of PUF in 3-D Selector-Free RRAM." IEEE Transactions on Electron Devices 68, no. 5 (2021): 2577-2581.

3. Huo, Qiang, Renjun Song, Dengyun Lei*, Qing Luo, Zhenhua Wu, Zuheng Wu, Xiaojin Zhao, Feng Zhang*, Ling Li, and Ming Liu. "Demonstration of 3D convolution kernel function based on 8-layer 3D vertical resistive random access memory." IEEE Electron Device Letters 41, no. 3 (2020): 497-500.

4. Gao, Rui, Dengyun Lei*, Zhiyuan He, Yiqiang Chen, Yun Huang, Yunfei En, Xiaoxin Xu, and Feng Zhang*. "Effect of Moisture Stress on the Resistance of HfO2/TaOx-Based 8-Layer 3D Vertical Resistive Random Access Memory." IEEE Electron Device Letters 41, no. 1 (2019): 38-41.

5. Gao, Rui, Dengyun Lei*, Zhiyuan He, Yunfei En, and Yun Huang. "Layer-dependent resistance variability assessment on 2048 8-layer 3D vertical RRAMs." Electronics Letters 55, no. 17 (2019): 955-957.