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学术报告:集成电路安全检测技术研究与实践

发布时间:2024-11-12点击数:


报告地点:理学馆213学术交流室

报告时间:20241113日(周三)15:30

报告人:王力纬 研究员

邀请人:刘远 教授

内容简介:集成电路作为现代信息系统的核心部件,其安全性对与系统的安全可靠起着基础性作用。由于供应链全球化,及设计复杂度的上升,集成电路安全易收到硬件木马、安全漏洞等侵害。此外,车规级芯片的蓬勃发展,也给其功能安全带来了更高的要求。本报告介绍集成电路安全的相关背景,及工信部电子五所在该领域的一些研究工作与实践,最后探讨了该领域下一步的发展方向。

报告人简介:王力纬,博士,工业和信息化部电子第五研究所研究员,电子元器件可靠性全国重点实验室失效分析研究室主任,主要从事集成电路安全可靠检测分析相关技术研究。曾获广东省科技进步一等奖、国防技术发明二等奖、国防科技创新团队奖、中国电子信息科技创新团队奖等奖项。获PCT及中国发明专利授权30余项,发表论文40余篇,参与编写专著1本,译著1本。